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檢測(cè)導(dǎo)電材料上是否有劃痕和裂紋-日本micro-fix無損探傷儀

發(fā)布時(shí)間:2020-11-16 點(diǎn)擊量:854

檢測(cè)導(dǎo)電材料上是否有劃痕和裂紋-日本micro-fix無損探傷儀MX-2000

 

檢測(cè)金屬表面上或正下方的微小缺陷。它具有出色的可操作性,任何人都可以輕松處理它。

對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行非接觸式檢查,以檢查導(dǎo)電材料上是否有劃痕和裂紋。根據(jù)預(yù)設(shè)的閾值執(zhí)行通過/失敗判斷,并將判斷結(jié)果輸出到外部。此外,可以在監(jiān)視器上檢查實(shí)際的探傷波形,因此可以輕松設(shè)置測(cè)量條件。

用于金屬加工的渦流探傷儀

  • 檢測(cè)金屬表面上的細(xì)微裂紋和凹陷
  • 在檢查屏幕上的波形時(shí)可以更改設(shè)置
  • 具備兩種檢查方式,單品檢查和材料狀態(tài)檢查
  • XY和VT中顯示的波形

檢測(cè)例[1](臨時(shí))

檢測(cè)例[2](裂紋)

檢測(cè)例[3](焊接不良)

模型MX-2000
電源交流電100-240V 50Hz / 60Hz 60W
輸入輸出8點(diǎn)光電耦合器輸入/ 9點(diǎn)MOS FET輸出
使用環(huán)境溫度0℃?40℃濕度10?80%RH(無結(jié)露)
設(shè)備尺寸430 x 310 x 390(寬x高x深)