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電阻式膜厚計RST-231產品介紹

發布時間:2024-01-11 點擊量:406

電阻式膜厚計RST-231產品介紹

可以在短時間內測量絕緣材料上的金屬薄膜(銅箔、印刷電路板上的電鍍層等),并且雙面板和多層板不受背面或內層的影響。可選擇兩種測量范圍,可測量2-120μm的金屬涂層。

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電阻式膜厚計RST-231特點

0.7 秒內測量絕緣體上的金屬薄膜

可在短時間內(0.7秒)高精度測量絕緣材料(銅箔、印刷電路板鍍層等)上的金屬膜。

易于閱讀的屏幕配置

屏幕大、明亮,使用電腦時易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量。可選擇兩個測量范圍(2 至 24 μm、10 至 120 μm)。

各種圖表可以立即查看

統計處理后,可以隨時立即查看直方圖、剖面圖和 xR 控制圖。

異常值檢測功能

如果您設置膜厚度的上限和下限,則會通知您異常值。

方便的統計處理

可保存每個通道的測量數據,并可設置統計項目,并可對測量數據進行統計處理。

最多可注冊 40 個頻道

您最多可以注冊 40 個頻道,因此您可以通過用戶名、部件號等單獨注冊頻道來管理頻道。

電阻式膜厚計RST-231介紹實例

山形縣O公司

印刷線路板、
電子設備、電子零件

神奈川縣T公司

照明/電氣設備零件,NF/NC

韓國

電阻式膜厚計RST-231技術參數

型號(主機)RST-231型
測量原理4探頭電阻式
測量范圍2~24μm, 10~120μm 
通道數40個頻道
數據容量10萬條數據
展示取決于電腦顯示器屏幕
統計處理最大值、最小值、平均值、標準差、直方圖、上下限值設置
電源AC100~240V,50/60Hz 10VA(主機)
尺寸280(寬)×230(深)×88(高)mm(機身)
配件4點探頭 KD-110
標準板 TCU-145
 前端間距探頭前端
KD-1101毫米0.1R *標準品
KD-1051毫米0.05R
KD-1201毫米0.2R
KD-2102毫米0.1R
KD-2202毫米0.2R