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高分子材料測試用氧化劣化評估設備介紹

發布時間:2024-12-17 點擊量:45

高分子材料測試用氧化劣化評估設備介紹

高分子材料在環境中逐漸氧化并開始劣化。
該裝置采用未有的方法對材料的氧化進行定量,
從而可以定量評估氧化劣化。

如今,使用比原生料氧化程度更高的回收料,即使原材料相同,也會因工藝不同而導致成品性能差異,甚至因批次不同而導致成品性能差異。即使材料相同,這也是分析除耐候性以外涉及氧化的因素(例如性能差異)的非常有效的方法。

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測量原理

◆傳統的化學發光法通過捕獲人類不可見的光來檢測氧化變質
 ,主要在約數千小時后進行評估,直到達到設備可以檢測到的水平。
 該設備最早可以在幾個小時后檢測到變化,具體取決于材料和惡化速度。

 

 

通過捕獲上面顯示的光發射,您可以獲得以下結果。

 

 

?通過在空氣中加熱樣品,過氧化物分解并檢測到“第一個峰"。
 該第一個峰對應于測量時的過氧化物的量。
- 最終,它將達到平衡狀態。此時的強度稱為平衡發射強度(IS)。
- 如果樣品添加了穩定劑,穩定劑會阻擋它,但一旦消耗,樣品本身就會發生氧化,發光強度會增加。
?第2個峰值的起點被稱為氧化誘導時間(OIT),可以根據該OIT評價樣品的氧化穩定性。
 還可以通過 IS(平衡發射強度)評估樣品的氧化穩定性。


陣容

◆高靈敏度型

產品名稱/型號名稱

超弱發光檢測光譜儀

CLA-FS5

超弱發光檢測光譜儀

CLA-ID5

外部的
檢測方法

單光子計數法

使用光電倍增管(Photomultiplier)

檢測波長300nm至650nm(中心波長420nm)
冷卻方式

一次冷卻:帕爾貼元件二次冷卻:水冷

測量項目

①發光亮度(次/秒)

② 發射光譜
(380nm至660nm/20nm分辨率)

發射亮度(計數/秒)

最短測量時間

(閘門時間)

0.1秒、1秒、10秒
光譜濾光片

內置15張

(380nm至660nm:每20nm)

沒有任何

觸摸屏

顯示項目

① 發光量 ② 樣品室溫度 ③ 樣品室設定溫度 ④ 狀態 ⑤ GateTime ⑥ 報警

⑦詳情 ⑧樣品室開/關狀態 ⑨快門開/關狀態

通訊功能USB 端口 (1) 使用專用程序
尺寸/重量

523.5(寬)×411.5(深)×547(高)毫米

約60公斤

310(寬)×420(深)×524(高)毫米

約35公斤

 

◆成像功能型

產品名稱/型號名稱

弱發光圖像測量裝置

CLA-IMG5

瞬時光譜測量裝置

共軛亞油酸SP3

外部的
檢測方法背照式幀傳輸CCD相機
檢測波長400-800nm(中心波長600nm)
冷卻方式風冷
有效像素數1024 x 1024 像素1600 x 200 像素
解決

空間分辨率:約150μm×150μm

(選項:約10μm)

波長分辨率:約1nm
測量項目

發光圖像

發射亮度(圖像選擇范圍內)

發射光譜測量
接觸時間30毫秒~120分鐘0.01 至 10,000 秒
鏡片25mm F0.95(C接口)入口狹縫寬度:0.1/0.5/1.0mm
內置快門內置機械快門沒有任何
通訊功能IEEE1394bUSB
尺寸/重量

310(寬)×446(深)×775(高)毫米

約30公斤

310(寬)×420(深)×524(高)毫米

約35公斤

應用

◆耐候性評價
  PDF下載:
三種不同類型PP材料的耐候性評價用CLA-FS5型測定
  PDF下載:再生材料原料的評價及共混比的確定

  ◆下載PFD 以確定添加劑的有效性:在短時間內預測抗氧化劑等處方藥的有效性

  ◆下載PFD ,對儲存物料進行合格/不合格判斷:量化自然氧化,有效利用物料,減少浪費